半导体元件和电子设备
公开
摘要
提供了一种光检测装置。所述光检测装置包括：第一基板，所述第一基板包括第一电极、半导体层、第一绝缘膜和通孔；第二基板，其面对所述第一基板，并且通过所述通孔电连接到所述半导体层。所述半导体层包含化合物半导体材料。所述第一电极包括第一部分和第二部分。所述第一电极的所述第一部分与所述半导体层接触，所述第二部分与所述第一绝缘膜和所述通孔接触。
基本信息
专利标题 ：
半导体元件和电子设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114467177A
申请号 ：
CN202080069046.2
公开（公告）日 ：
2022-05-10
申请日 ：
2020-11-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
松本良辅万田周治丸山俊介
申请人 ：
索尼半导体解决方案公司
申请人地址 ：
日本神奈川县
代理机构 ：
北京信慧永光知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
陈桂香
优先权 ：
CN202080069046.2
主分类号 ：
H01L27/146
IPC分类号 ：
H01L27/146
法律状态
2022-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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