一种芯片stop电流测试的系统及其方法
实质审查的生效
摘要
本发明揭示了一种芯片stop电流测试的系统，其特征在于：指令灌入模块，用于连接芯片的JTAG口；并且，当芯片进入debug模式后，所述指令灌入模块通过所述JTAG口灌入指令给芯片中的CPU执行；其中，所述系统免除对芯片中flash的利用。本发明极大的减少了测试的时间和综合成本，提高了芯片量产的测试效率。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片stop电流测试的系统及其方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114428699A
申请号 ：
CN202111041440.8
公开（公告）日 ：
2022-05-03
申请日 ：
2021-09-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张兵印俊明兰海鑫
申请人 ：
上海芯圣电子股份有限公司
申请人地址 ：
上海市松江区小昆山镇山西路10号1号房404室
代理机构 ：
北京前审知识产权代理有限公司
代理人 ：
张静
优先权 ：
CN202111041440.8
主分类号 ：
G06F11/22
IPC分类号 ：
G06F11/22 G01R31/28 G01R19/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/22
申请日 : 20210906
申请日 : 20210906
2022-05-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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