一种溶解-熔融法制样-X射线荧光光谱法测定钛铁中钛、硅、...
实质审查的生效
摘要

本发明涉及化学分析技术领域,公开了一种溶解‑熔融法制样‑X射线荧光光谱法测定钛铁中钛、硅、锰、磷、铝、铜含量的方法。该方法包括:(1)将钛铁试样置于铂黄坩埚中,加入硝酸溶液加热溶解,停止加热并冷却3~8分钟;(2)向溶解试样中加入过氧化氢溶液进行氧化反应,将反应产物加热进行蒸发,然后将铂黄坩埚内表面试样刮起;(3)向干燥试样中加入无水四硼酸锂,加入硝酸锂溶液和饱和溴化铵溶液,然后将混合试样置于熔融炉熔化并将熔融试样制备成玻璃片;(4)用X射线荧光光谱仪测定熔融试样中钛、硅、锰、磷、铝、铜元素的含量。该方法采用非公安部门管制剧毒、易制爆化学试剂,分析速度快,其准确性与化学分析媲美等优点。

基本信息
专利标题 :
一种溶解-熔融法制样-X射线荧光光谱法测定钛铁中钛、硅、锰、磷、铝、铜含量的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114486968A
申请号 :
CN202111601458.9
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2021-12-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
吴秀才王青竹
申请人 :
芜湖新兴铸管有限责任公司
申请人地址 :
安徽省芜湖市三山区经济开发区春洲路2号
代理机构 :
北京润平知识产权代理有限公司
代理人 :
董杰
优先权 :
CN202111601458.9
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  G01N23/2202  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/223
申请日 : 20211224
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332