本申请涉及芯片测试的技术领域，尤其是涉及一种对芯片进行ELFR测试的方法、装置及系统，系统包括主控单元、与主控单元连接的FPGA芯片以及与FPGA芯片连接的待测Flash，主控单元用于给FPGA芯片发送操作信息，使FPGA芯片对操作信息进行解析并把解析得到的操作指令发送给待测Flash，使待测Flash执行擦除操作以及写入操作；主控单元还用于给FPGA芯片发送对待测Flash一直读取的指令，并使FPGA芯片将读取到的数据与写入的数据进行对比，接收FPGA芯片发送的由于读取到的数据与写入的数据不一致而生成的标志信号，查询并获取对应的待测Flash的测试结果。本申请可以同时对多个Flash芯片进行测试，有针对性地获取对应的Flash芯片的测试结果，极大减轻了主控单元的任务量，提高了ELFR测试的测试效率。