一种电源芯片测试系统
公开
摘要
本发明涉及芯片测试技术领域,公开了一种电源芯片测试系统，包括测试单元、切换开关和至少一个测试座，每个测试座的信号切换管脚通过切换开关与测试单元电连接，测试座的信号固定管脚与测试单元电连接，测试单元用于向所述测试座提供测试信号，和/或接收所述测试座上的电源芯片发出的运行信号，在实际测试时，本发明通过将测试座的信号切换管脚通过切换开关与测试单元连接，如果需要更换测试功能，只需控制切换开关的导通通道即可，不用人工重新接线，操作简便，另外通过设置多个测试座，可以同时对多个电源芯片进行测试，提高测试效率。
基本信息
专利标题 ：
一种电源芯片测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114295962A
申请号 ：
CN202111657486.2
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
赵坤鹏刘栋栋嵇伟康史小奇
申请人 ：
无锡伟测半导体科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市新吴区新加坡工业园新达路28-12号
代理机构 ：
无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
郭慧
优先权 ：
CN202111657486.2
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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