基于伪Wigner-Ville分布的白光扫描干涉三维重建...
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种基于伪Wigner‑Ville分布的白光扫描干涉三维重建方法，包括以下步骤：S1：提取离散白光干涉信号的干涉特征位置，得到实际使用的实际干涉信号I(δz)；S2：获取所述实际干涉信号I(δz)的解析形式S3：解析干涉信号的瞬时自相关函数R(μ，δz)；S4：获取以所述空间位置差μ和离散频率f为横纵轴的伪Wigner‑Ville分布结果WV(δz，f)；S5：在所述离散频率f方向上求取最值位置得到所述实际干涉信号的类包络信号E(δz)，提取出所述类包络信号的高度位置。本发明提供的白光扫描干涉三维重建方法，不受相位误差和参数设置的限制，得到的包络信息半宽值较小故重建精度较高。
基本信息
专利标题 ：
基于伪Wigner-Ville分布的白光扫描干涉三维重建方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114322833A
申请号 ：
CN202111669876.1
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
姚东梁瀚钢
申请人 ：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址 ：
吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
代理机构 ：
长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
郭婷
优先权 ：
CN202111669876.1
主分类号 ：
G01B11/24
IPC分类号 ：
G01B11/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/24
申请日 : 20211231
申请日 : 20211231
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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