一种物理层测试方法、装置、芯片及模组设备
公开
摘要
本申请公开了一种物理层测试方法、装置、芯片及模组设备，该方法包括：获取测试例参数脚本文件，该测试例参数脚本文件包括下行信号的参数信息；确定该测试例参数脚本文件对应的数据结构信息，该数据结构信息用于指示多个测试例参数之间的关联关系；基于该数据结构信息确定功能应用平台接口FAPI消息，该FAPI消息用于指示物理层基于该FAPI消息生成下行信号；向该物理层发送该FAPI消息。基于本申请所描述的方法，能够提高物理层子系统的测试效率以及测试参数的可靠性，保证物理层子系统的完整性。
基本信息
专利标题 ：
一种物理层测试方法、装置、芯片及模组设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114302436A
申请号 ：
CN202111676117.8
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王鹏索忠伟汤坚
申请人 ：
紫光展锐（重庆）科技有限公司
申请人地址 ：
重庆市北碚区云汉大道117号附368号
代理机构 ：
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 ：
张月婷
优先权 ：
CN202111676117.8
主分类号 ：
H04W24/02
IPC分类号 ：
H04W24/02
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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