本实用新型涉及晶棒检测装置技术领域，具体为一种半导体生产用晶棒性能连续测试架，包括安装箱，所述安装箱的顶部固定连接有固定筒，所述固定筒的内部设置有调节机构，所述固定筒的顶部固定连接有进料筒，所述固定筒的一侧设置有检测探头；所述调节机构包括第一电机、转动盘和放置槽，所述固定筒的一侧固定连接有第一电机。本实用新型的优点在于：通过设置调节机构和进料筒，达到了可以既可以便于晶棒检测块自动上料，同时又可以进行连续检测作业的目的，从而有效的增加晶棒检测块的检测效率，通过设置第一检测头和第二检测头，达到了既可以对两个晶棒检测块的不同方位进行检测，从而增加增加晶棒检测块的检测效果，有效增加检测效率。