一种金刚石晶片热导率的测定装置
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摘要

本实用新型涉及一种金刚石晶片热导率的测定装置,该金刚石晶片热导率的测定装置,包括激光源、光路、拉曼光谱测量仪、液氮源和载物结构,载物结构包括载物台,其内形成有载物腔,其上设有与载物腔连通的液氮进气口、液氮出气口和温度接口,液氮源通过液氮进气口向载物腔内通入液氮,温度接口用于测量载物腔内的温度参数并输出;载物腔顶部的载物台上设置有透明观测口,载物腔内对应透明观测口设置有载物部,以用于放置金刚石晶片;载物台上设置有与载物腔相连的置物口并在该处设置有密封盖。该金刚石晶片热导率的测定装置,可以于低温条件下测量金刚石晶片的热导率,从而获得低温下金刚石晶片的热导率变化趋势,进而有利于金刚石的精准应用。

基本信息
专利标题 :
一种金刚石晶片热导率的测定装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122904941.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-24
授权号 :
CN216247709U
授权日 :
2022-04-08
发明人 :
张宇飞王凯悦郭之健秦振兴李俊林
申请人 :
太原科技大学
申请人地址 :
山西省太原市万柏林区窊流路66号
代理机构 :
济南鲁科专利代理有限公司
代理人 :
王超
优先权 :
CN202122904941.6
主分类号 :
G01N21/65
IPC分类号 :
G01N21/65  G01N25/20  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/65
喇曼散射
法律状态
2022-04-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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