一种柔性IC封装基板显微成像检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种柔性IC封装基板显微成像检测装置,涉及IC基板技术领域,包括检测台,所述检测台的顶部固定安装有安装架,所述安装架上设有检测机构,所述检测台的顶部固定安装有夹持架,所述夹持架的内部设有夹持机构,所述检测机构包括滑座、检测镜头、驱动电机、螺纹杆、螺母和滑杆,所述滑座滑动安装在安装架上,所述检测镜头固定安装在滑座底部,所述驱动电机固定安装在安装架右侧,所述安装架的内部开设有安装槽,所述安装槽的内部转动连接有螺纹杆,所述螺纹杆上螺纹连接有螺母,本实用新型中,通过设置的夹持机构能够对柔性IC封装基板进行夹紧固定,同时能够对柔性IC封装基板进行翻转检测,提高检测效率。
基本信息
专利标题 :
一种柔性IC封装基板显微成像检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123066146.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-08
授权号 :
CN216560295U
授权日 :
2022-05-17
发明人 :
付满仓陶旭
申请人 :
苏州信立盛电子有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴中区越溪街道木林路9号2幢
代理机构 :
北京中政联科专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
邵娟
优先权 :
CN202123066146.0
主分类号 :
G01N21/84
IPC分类号 :
G01N21/84 G01N21/01 G01D21/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2022-05-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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