一种线性稳压电源芯片的老化测试系统
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种线性稳压电源芯片的老化测试系统；包括：核心板、老化底板组件和万用表；老化底板组件由多个老化底板并联组成；核心板用于承载待测芯片，且核心板通过第一PCI插槽与对应的老化底板连接；每个老化底板均包括第一MCU芯片、第一模拟开关和第一COM接口；第一模拟开关在第一MCU芯片的控制下，用于将第一PCI插槽上对应的待测芯片的引脚信号发送至第一COM接口；万用表通过测量第一COM接口，获得待测芯片引脚的输入电压值、输出电压值、输入电流值和输出电流值；通过该系统能够对芯片测试过程中的关键数据进行实时监测、减少芯片测试所需空间，同时降低测试成本。
基本信息
专利标题 ：
一种线性稳压电源芯片的老化测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114441941A
申请号 ：
CN202210091906.3
公开（公告）日 ：
2022-05-06
申请日 ：
2022-01-26
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
梁子聪万世辉
申请人 ：
英彼森半导体（珠海）有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市横琴新区环岛东路1889号创意谷18栋110室-388（集中办公区）
代理机构 ：
北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
符继超
优先权 ：
CN202210091906.3
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20220126
申请日 : 20220126
2022-05-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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