半导体器件、其制作方法以及3D NAND存储器
实质审查的生效
摘要

本申请提供了一种半导体器件、其制作方法以及3D NAND存储器,该半导体器件包括衬底、绝缘层以及导电层,其中,衬底的表面上具有凹槽,绝缘层位于衬底的表面上、凹槽的底部以及凹槽的侧壁上;导电层位于绝缘层的远离衬底的表面上。本申请的半导体器件,通过在衬底上形成具有多个沟槽的三维图形,这样使得覆盖在衬底上的导电层具有三维结构,即形成了三维结构的电容器,保证了半导体器件的有效面积不变的情况下,其在半导体器件上的占用面积较小,保证了半导体器件的集成密度较大,从而缓解了电容器对半导体器件的尺寸缩小的限制问题。

基本信息
专利标题 :
半导体器件、其制作方法以及3D NAND存储器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114446937A
申请号 :
CN202210119347.2
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2022-02-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
周璐张权姚兰
申请人 :
长江存储科技有限责任公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号
代理机构 :
北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人 :
霍文娟
优先权 :
CN202210119347.2
主分类号 :
H01L23/64
IPC分类号 :
H01L23/64  H01L49/02  H01L27/115  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L23/00
半导体或其他固态器件的零部件
H01L23/58
其他组不包含的,用于半导体器件的电结构装置
H01L23/64
阻抗装置
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 23/64
申请日 : 20220208
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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