一种提升ATE芯片测试速度的装置和方法
实质审查的生效
摘要

一种提升ATE芯片测试速度的装置和方法,该装置用于执行X个测试流,每一个测试流包括N个测试项,每个测试项包括M个配置指令;上位机所包括的配置文件产生模块将X*N*M配置指令按一预定顺序形成配置指令文件集;配置指令文件集中的每一条配置指令包括待配置文件类型标识、指令功能、寄存器地址、交互数据、指令调度顺序和/或指令执行条件;在启动测试前,上位机下发配置指令文件内容、文件名和待存储位置,下位机接收并缓存于指定位置且将其命名为上述文件名,待下位机收到开始测试的指令后,从约定位置读取配置指令文件,利用语法解析器解析配置指令文件,调取相应的功能指令,并发送给相应的指令执行单元。因此,本发明缩短软硬件之间的通信交互次数,提高了测试效率。

基本信息
专利标题 :
一种提升ATE芯片测试速度的装置和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114527371A
申请号 :
CN202210138326.5
公开(公告)日 :
2022-05-24
申请日 :
2022-02-15
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张新雅
申请人 :
上海御渡半导体科技有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区泥城镇新元南路600号1幢1夹层
代理机构 :
上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
徐琳
优先权 :
CN202210138326.5
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20220215
2022-05-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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