半导体器件、其制作方法以及三维存储器
实质审查的生效
摘要

本申请提供了一种半导体器件、其制作方法以及三维存储器,半导体器件包括衬底、堆叠结构以及介质层,堆叠结构位于衬底上,堆叠结构包括沿远离衬底的方向交替叠置的绝缘介质层以及金属层,堆叠结构的一端具有台阶区域,台阶区域包括多个台阶,介质层覆盖在堆叠结构以及台阶区域的远离衬底的表面上,还包括凹槽、虚拟沟道填充层和接触孔填充层,凹槽贯穿介质层、堆叠结构至衬底中;虚拟沟道填充层和接触孔填充层沿远离衬底的方向依次叠置在凹槽中,凹槽两侧的距离衬底最远的金属层为预定金属层,接触孔填充层与预定金属层接触,接触孔填充层通过虚拟沟道填充层与其他的金属层隔离。本申请保证了半导体器件的接触孔以及虚拟沟道孔的工艺窗口较大。

基本信息
专利标题 :
半导体器件、其制作方法以及三维存储器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114551459A
申请号 :
CN202210164965.9
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-02-22
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
孔翠翠张中周文犀
申请人 :
长江存储科技有限责任公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号
代理机构 :
北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人 :
霍文娟
优先权 :
CN202210164965.9
主分类号 :
H01L27/11524
IPC分类号 :
H01L27/11524  H01L27/11556  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27/00
由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27/02
包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27/04
其衬底为半导体的
H01L27/10
在重复结构中包括有多个独立组件的
H01L27/105
包含场效应组件的
H01L27/112
只读存储器结构的
H01L27/115
电动编程只读存储器;其多步骤制造方法
H01L27/11517
具有浮栅的
H01L27/11521
以存储器核心区为特征的
H01L27/11524
具有单元选择晶体管的,例如,NAND
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 27/11524
申请日 : 20220222
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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