一种应用于芯片测试设备的平台移动装置
授权
摘要

本申请实施例提供了一种应用于芯片测试设备的平台移动装置,平台移动装置包括底座、设置在底座上方的滑动平台,在滑动平台下方设置滑动连接的第一导轨和第二导轨,滑动平台一侧设有凸轮随动器,凸轮的一端与凸轮随动器抵接,其中,凸轮与凸轮随动器抵接端的表面包括平面区域和非平面区域,凸轮的另一端穿过设置在电机一侧的电机座与电机连接,电机驱动凸轮转动,当凸轮转动到非平面区域时,推进第一导轨与第二导轨相对滑动,以使得滑动平台相对底座移动,当凸轮转动到所述平面区域时,滑动平台相对底座静止。本申请通过凸轮进行驱动,以实现滑动平台的微小行程移动,在保证移动的精度的同时,节省了生产成本。

基本信息
专利标题 :
一种应用于芯片测试设备的平台移动装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114280465A
申请号 :
CN202210205834.0
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2022-03-04
授权号 :
CN114280465B
授权日 :
2022-05-13
发明人 :
马超江坤黄秋元周鹏
申请人 :
武汉普赛斯电子技术有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道308号光谷动力节能环保产业园9栋4楼
代理机构 :
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 :
何志军
优先权 :
CN202210205834.0
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-13 :
授权
2022-04-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20220304
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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