一种提高缺陷检测准确性的方法、计算机设备及可读介质
授权
摘要

本申请公开了一种提高缺陷检测准确性的方法、计算机设备及可读介质,该方法包括:利用相机拍摄待测对象的显示画面,对获取的第一显示图像进行缺陷检测,得到各个缺陷的基本区域特征和亮度信息;获取相机中每个相机像素的第一点扩散函数PSF;根据基本区域特征将对应的缺陷映射到待测对象上,根据亮度信息计算待测对象上的缺陷经相机取像后的第二点扩散函数PSF;根据第一、第二点扩散函数PSF计算待测对象上的缺陷本身的第三点扩散函数PSF;将各缺陷的基本区域特征和第三点扩散函数PSF输入分类网络模型中,对各缺陷进行分类;本发明能够消除相机取像后的图像不能真实反应待测对象这一失真现象对缺陷检测的不利影响,从而提高缺陷检测的准确度。

基本信息
专利标题 :
一种提高缺陷检测准确性的方法、计算机设备及可读介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114359115A
申请号 :
CN202210267187.6
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2022-03-18
授权号 :
CN114359115B
授权日 :
2022-06-03
发明人 :
游威李渊刘璐宁江宝焜
申请人 :
武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号
代理机构 :
武汉东喻专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王聪聪
优先权 :
CN202210267187.6
主分类号 :
G06T5/00
IPC分类号 :
G06T5/00  G06T7/00  G06T7/11  G06T7/136  G06V10/764  G06K9/62  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T5/00
图像的增强或复原
法律状态
2022-06-03 :
授权
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 5/00
申请日 : 20220318
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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