一种晶片颜色检测设备
公开
摘要
本发明公开的一种晶片颜色检测设备，包括：依次设置在检测设备顶部的上料模组、检测模组与下料模组，上料模组包括上料输送机构、补料输送机构与上料抓取机构；上料输送机构上设置有上料缓存机构，缓存推动机构能够将上料推送链上的晶片箱推入缓存腔室内进行缓存；检测模组包括检测支撑架以及设置在检测支撑架一侧的至少一个视觉检测机构，视觉检测机构能够对晶片进行拍照检测，检测模组还包括标记机构，当视觉检测机构检测到晶片缺陷时，通过标记机构在晶片表面进行标记，以便于对晶片进行分类；下料输送机构一侧设置有箱体输送链，箱体输送链上设置有多个储存箱，通过推动机械手将晶片箱推动至储存箱内。
基本信息
专利标题 ：
一种晶片颜色检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114582765A
申请号 ：
CN202210489404.6
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-05-07
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
秦应化刘杰杰刘传磊
申请人 ：
苏州鼎纳自动化技术有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市工业园区葑亭大道598号1号楼东侧
代理机构 ：
苏州翔远专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
陆金星
优先权 ：
CN202210489404.6
主分类号 ：
H01L21/67
IPC分类号 ：
H01L21/67 H01L21/677 H01L21/683
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/67
专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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