本发明公开了一种红外芯片发码功能测试方法及装置、电子设备和存储介质，该方法包括以下步骤：通过记录设备记录待测红外发码芯片的按键所发码型的编码格式信息，并将所述编码格式信息传送给测试设备；在所述红外发码芯片测试时，所述测试设备触发相同的按键，并记录所述按键所发码型的编码格式信息；以及所述测试设备判断其记录的编码格式信息和从所述记录设备接收到的编码格式信息的误差是否在所述测试误差内；若是，则所述红外发码芯片的发码功能正常。该方法无论红外集成电路发出来的码型是需要奇偶帧校验的，还是带简码重复功能的，需要测试一帧还是测试多帧，该测试方法都可以准确测试码型正确性，进而判断红外集成电路的功能是否正常。