半导体器件外引线耐应力腐蚀检测法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
目前国内外所采用的半导体器件及集成电路扁平封装外引维耐应力腐蚀检测方法及装置虽然各有特点。但均存在试验周期长、效率低、与外引线实际使用状态相去绞远及难以定量之不足。本发明采用铰外引线实磨蚀介质中发生弯曲变形的轴载结短了试验周期，在相同试验条件下同时对n×h个外引结进行检测(n为底坐数≤20，h为每个底坐的外引线数≤10)提高了检测效率；通过记录外引线断裂失效时间和累计失效率并以此进行威布尔统计处理可达到定量检测之目的。
基本信息
专利标题 ：
半导体器件外引线耐应力腐蚀检测法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1036264A
申请号 ：
CN88101440.0
公开（公告）日 ：
1989-10-11
申请日 ：
1988-03-25
授权号 ：
CN1008830B
授权日 ：
1990-07-18
发明人 ：
沈卓身李虎彭建明
申请人 ：
北京科技大学
申请人地址 ：
北京市学院路30号
代理机构 ：
北京科技大学专利代理事务所
代理人 ：
刘建民
优先权 ：
CN88101440.0
主分类号 ：
G01N3/14
IPC分类号 ：
G01N3/14 G01N17/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/00
用机械应力测试固体材料的强度特性
G01N3/08
施加稳定的张力或压力
G01N3/14
由静重产生的，例如摆；由弹簧张力产生的
法律状态
1994-02-02 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1991-02-13 ：
授权
1990-07-18 ：
审定
1989-10-11 ：
公开
1988-08-24 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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