砷化镓场效应晶体管沟道温度测试方法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
砷化镓场效应晶体管沟道温度测试方法属于半导体器件测试技术领域。其特点是：分别在工作状态下加有加热脉冲电压的栅极负偏压以及只加有栅极负偏压且其管芯温度与环境温度相等的条件下测出器件向测量状态转换时的Vgsf与t的曲线和只加负偏压且在设定的不同管芯温度下各V′gsfl与时间的曲线，求出在一定栅极负偏压下的温度系数与时间的关系曲线把冷却曲线经过外推并使用器件多层三维模型求出在任意工作条件下的沟道温度、热阻、峰值沟道温度和峰值热阻。
基本信息
专利标题 ：
砷化镓场效应晶体管沟道温度测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1106922A
申请号 ：
CN94101005.8
公开（公告）日 ：
1995-08-16
申请日 ：
1994-02-08
授权号 ：
CN1036357C
授权日 ：
1997-11-05
发明人 ：
吕长志王明珠王重冯士维丁广钰李学信
申请人 ：
北京工业大学
申请人地址 ：
100022北京市东郊平乐园100号北京工业大学
代理机构 ：
北京工业大学专利代理事务所
代理人 ：
楼艮基
优先权 ：
CN94101005.8
主分类号 ：
G01K7/00
IPC分类号 ：
G01K7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01K
温度测量；热量测量；未列入其他类目的热敏元件
G01K7/00
以利用直接对热敏感的电或磁性元件为基础的温度测量
法律状态
2003-04-09 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1997-11-05 ：
授权
1995-08-16 ：
公开
1995-01-25 ：
实质审查请求的生效
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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