等离子体刻蚀装置
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摘要

本发明涉及等离子体刻蚀装置,本发明提出一种具有改良的线圈的等离子体刻蚀装置,其线圈包括若干匝圆形和若干匝多边形线圈,用于把反应气体激励成等离子体。本发明的等离子体刻蚀装置的优点和积极效果在于:由于采用了改进的激励线圈,能够在实际的反应室内补偿反应室的机械结构非对称性的影响,产生径向均匀的等离子体,提高硅片刻蚀的均匀性,从而提高硅片刻蚀的良率。

基本信息
专利标题 :
等离子体刻蚀装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1852629A
申请号 :
CN200510126341.4
公开(公告)日 :
2006-10-25
申请日 :
2005-12-07
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陈鹏
申请人 :
北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司
申请人地址 :
100016北京市朝阳区酒仙桥东路1号
代理机构 :
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 :
王常风
优先权 :
CN200510126341.4
主分类号 :
H05H1/24
IPC分类号 :
H05H1/24  H01J37/32  H01L21/68  H01F5/00  
法律状态
2018-08-14 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : H05H 1/24
变更事项 : 专利权人
变更前 : 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司
变更后 : 北京北方华创微电子装备有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 100016 北京市朝阳区酒仙桥东路1号
变更后 : 100176 北京市经济技术开发区文昌大道8号
2008-07-23 :
授权
2006-12-20 :
实质审查的生效
2006-10-25 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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