半导体器件的寿命的动态估算

专利权的终止

摘要

在一个实施例中，本发明包括一种方法，所述方法用于获得诸如处理器的半导体器件的动态工作参数信息，基于动态工作参数信息确定所述器件的整体或者其一个或多个部分的动态使用情况，并且基于动态使用情况动态估算所述器件的剩余寿命。可以根据估算剩余寿命按照所期望的方式控制所述器件。还描述了其他实施例，并要求对其进行保护。

基本信息

专利标题：

半导体器件的寿命的动态估算

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN101313226A

申请号：

CN200580052138.5

公开（公告）日：

2008-11-26

申请日：

2005-12-30

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

X·韦拉J·阿韦利亚O·云萨尔O·埃尔金A·冈萨雷斯

申请人：

英特尔公司

申请人地址：

美国加利福尼亚

代理机构：

永新专利商标代理有限公司

代理人：

邬少俊

优先权：

CN200580052138.5

主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R31/26 G06F11/30 G07C3/00

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/26

•单个半导体器件的测试

法律状态

2019-12-20 ：

专利权的终止

未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20051230
授权公告日 : 20130213
终止日期 : 20181230

2013-02-13 ：

授权

2009-01-21 ：

实质审查的生效

2008-11-26 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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