半导体器件的寿命的动态估算
专利权的终止
摘要
在一个实施例中，本发明包括一种方法，所述方法用于获得诸如处理器的半导体器件的动态工作参数信息，基于动态工作参数信息确定所述器件的整体或者其一个或多个部分的动态使用情况，并且基于动态使用情况动态估算所述器件的剩余寿命。可以根据估算剩余寿命按照所期望的方式控制所述器件。还描述了其他实施例，并要求对其进行保护。
基本信息
专利标题 ：
半导体器件的寿命的动态估算
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN103150221A
申请号 ：
CN201210567232.6
公开（公告）日 ：
2013-06-12
申请日 ：
2005-12-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
X·韦拉J·阿韦利亚O·云萨尔O·埃尔金A·冈萨雷斯
申请人 ：
英特尔公司
申请人地址 ：
美国加利福尼亚
代理机构 ：
永新专利商标代理有限公司
代理人 ：
邬少俊
优先权 ：
CN201210567232.6
主分类号 ：
G06F11/00
IPC分类号 ：
G06F11/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
法律状态
2019-12-20 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G06F 11/00
申请日 : 20051230
授权公告日 : 20160302
终止日期 : 20181230
申请日 : 20051230
授权公告日 : 20160302
终止日期 : 20181230
2016-03-02 ：
授权
2013-07-17 ：
实质审查的生效
号牌文件类型代码 : 1604
号牌文件序号 : 101490725705
IPC(主分类) : G06F 11/00
专利申请号 : 2012105672326
申请日 : 20051230
号牌文件序号 : 101490725705
IPC(主分类) : G06F 11/00
专利申请号 : 2012105672326
申请日 : 20051230
2013-06-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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2、
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