半导体集成电路器件
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
提供一种能够增加电容器电容的半导体集成电路元件。根据本发明的实施例的半导体集成电路元件包括:电路单元,形成在半导体衬底之上;以及电容器,形成在半导体衬底之上。电容器包括:下电容电极,由与电路单元相连的下层布线线路组成;电容绝缘膜,覆盖下层布线线路的上表面和侧表面;以及上电容电极,形成在电容绝缘膜之上,下电容电极至少包括由下层布线线路形成的电源线和地线之一。
基本信息
专利标题 :
半导体集成电路器件
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1819210A
申请号 :
CN200610004223.0
公开(公告)日 :
2006-08-16
申请日 :
2006-01-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
二阶堂裕文平林诚滋
申请人 :
恩益禧电子股份有限公司
申请人地址 :
日本神奈川县
代理机构 :
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 :
朱进桂
优先权 :
CN200610004223.0
主分类号 :
H01L27/11
IPC分类号 :
H01L27/11 H01L27/108 H01L27/04
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27/00
由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27/02
包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27/04
其衬底为半导体的
H01L27/10
在重复结构中包括有多个独立组件的
H01L27/105
包含场效应组件的
H01L27/11
静态随机存取存储结构的
法律状态
2009-07-15 :
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-10-11 :
实质审查的生效
2006-08-16 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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