半导体结构及制造该半导体结构的方法
专利申请权、专利权的转移
摘要
本发明提供电可编程的金属电阻器及其制备方法,其中电迁移应力被用于在结构中产生提高电阻器电阻的空洞。具体地,提供包括互连结构的半导体结构,所述互连结构包括至少一个介质层,其中所述至少一个介质层包括至少两个导电区和一个上层互连区,所述互连区嵌入在所述介质层内,所述至少两个导电区通过至少两个接触而与所述上层互连区相接触,而且至少所述的互连区与所述的至少一个介质层被扩散阻挡层隔离,其中空洞至少存在于互连区中,所述空洞提高互连区的电阻。
基本信息
专利标题 :
半导体结构及制造该半导体结构的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1862802A
申请号 :
CN200610059739.5
公开(公告)日 :
2006-11-15
申请日 :
2006-03-03
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
杨智超劳伦斯·A.·克莱温格詹姆斯·J.·德马莱斯特许履尘卡尔·莱登斯
申请人 :
国际商业机器公司
申请人地址 :
美国纽约
代理机构 :
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人 :
王永刚
优先权 :
CN200610059739.5
主分类号 :
H01L23/522
IPC分类号 :
H01L23/522 H01L21/768
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L23/00
半导体或其他固态器件的零部件
H01L23/52
用于在处于工作中的器件内部从一个组件向另一个组件通电的装置
H01L23/522
包含制作在半导体本体上的多层导电的和绝缘的结构的外引互连装置的
法律状态
2017-12-22 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移IPC(主分类) : H01L 23/522
登记生效日 : 20171204
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 国际商业机器公司
变更后权利人 : 格芯美国第二有限责任公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 美国纽约
变更后权利人 : 美国纽约
登记生效日 : 20171204
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 国际商业机器公司
变更后权利人 : 格芯美国第二有限责任公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 美国纽约
变更后权利人 : 美国纽约
2017-12-22 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移IPC(主分类) : H01L 23/522
登记生效日 : 20171204
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 格芯美国第二有限责任公司
变更后权利人 : 格芯公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 美国纽约
变更后权利人 : 开曼群岛大开曼岛
登记生效日 : 20171204
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 格芯美国第二有限责任公司
变更后权利人 : 格芯公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 美国纽约
变更后权利人 : 开曼群岛大开曼岛
2009-02-18 :
授权
2007-01-10 :
实质审查的生效
2006-11-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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