芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质

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摘要

本公开涉及一种芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质。涉及芯片测试领域，该方法包括：确定待测试的芯片的语言规则；确定待测试的芯片的产品及时序规格；根据所述语言规则与所述产品及时序规格由测试模板库中确定待测试模板；根据所述产品及时序规则与所述待测试模板生成测试编码；以及通过所述测试编码对待测试的芯片进行自动化测试。本公开涉及的芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质，能够自动生成大数据复杂存储器测试编码，采用正规化方式快速地产生不同规格的DDR4存储器测试编码，提升芯片产品验证分析效率。

基本信息

专利标题：

芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN111105839A

申请号：

CN201811261790.3

公开（公告）日：

2020-05-05

申请日：

2018-10-26

授权号：

CN111105839B

授权日：

2022-04-15

发明人：

不公告发明人

申请人：

长鑫存储技术有限公司

申请人地址：

安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室

代理机构：

北京律智知识产权代理有限公司

代理人：

袁礼君

优先权：

CN201811261790.3

主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

G11C29/56