一种晶圆测试探针台
授权
摘要

本发明的实施例公开一种晶圆测试探针台,涉及硅晶片测试技术领域,能够适用于真空测试环境中对晶圆的固定。包括:载台,在所述载台上设有用于固定晶圆的压环,所述压环上设有与所述晶圆轮廓相对应的结构。本发明适用于半导体、光电元器件、集成电路等的性能测试中,特别适用于对晶圆的测试。

基本信息
专利标题 :
一种晶圆测试探针台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111198285A
申请号 :
CN201811372333.1
公开(公告)日 :
2020-05-26
申请日 :
2018-11-16
授权号 :
CN111198285B
授权日 :
2022-05-03
发明人 :
刘旭峰
申请人 :
杭州海康微影传感科技有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市富阳区东洲街道高尔夫路209号第4幢1层
代理机构 :
北京市广友专利事务所有限责任公司
代理人 :
祁献民
优先权 :
CN201811372333.1
主分类号 :
G01R1/073
IPC分类号 :
G01R1/073  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2022-05-03 :
授权
2020-06-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 1/073
申请日 : 20181116
2020-06-09 :
著录事项变更
IPC(主分类) : G01R 1/073
变更事项 : 申请人
变更前 : 杭州海康微影传感科技有限公司
变更后 : 杭州海康微影传感科技有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 311401 浙江省杭州市富阳区东洲街道高尔夫路209号第4幢1层
变更后 : 311501 浙江省杭州市桐庐县桐庐经济开发区求是路299号A1号楼
2020-05-26 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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