一种测试探针卡用冶具
授权
摘要

本实用新型公开了一种测试探针卡用冶具,包括主体,所述主体包括下压环与上压环,所述下压环与上压环相连接,所述下压环与上压环靠近中间位置均设置有垫片,所述主体中间位置设置有边框,所述边框内侧设置有卡槽,所述卡槽中间位置开设有中心固定孔,所述上压环上端边角位置安装有固定栓,所述固定栓下方设置有压缩弹簧,所述边框两侧对称设置有固定环,所述下压环边角位置设置有卡扣;本实用新型能够对待测试的探针卡进行限位固定,同时能够对该冶具上的固定环进行高度调整,便于对不同规格的测试探针卡进行固定测试,适用性强,可使衔接环精准的定位在胶水上,从而达到精确定位水平,能够便于上压环与下压环的开启与贴合。

基本信息
专利标题 :
一种测试探针卡用冶具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921171032.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-24
授权号 :
CN210323142U
授权日 :
2020-04-14
发明人 :
张卫勇季寒飞吕晨昱钟志宏
申请人 :
苏州光和精密测试有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴中经济开发区越溪街道前珠路1号2幢六楼618
代理机构 :
上海精晟知识产权代理有限公司
代理人 :
吴冲般
优先权 :
CN201921171032.2
主分类号 :
G01R1/067
IPC分类号 :
G01R1/067  G01R1/073  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2020-04-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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