一种测试探针卡
授权
摘要

本实用新型公开一种测试探针卡,包括第一针盘,所述第一针盘和第二针盘配合安装,第二针盘和限位盘贴合安装,第一针盘中设有多个入针槽,第二针盘中设有多个针槽,第二针盘的顶部还设有多个针尾槽,针尾槽用于电性连接探针和焊点;本实用新型通过对探针卡结构的分层设计,使探针在安装时可以采用直针的形式进入到针槽中,细小的检测探针的安装更加的便捷,不需要间隔着放入探针,提高检测的精度和检测组装中的效率,避免人工的低效率和高精度设备的高成本的限制,适用于多种不同的场合,焊点设置在上方可以很好的将针和线分开,可以持续的循环使用。

基本信息
专利标题 :
一种测试探针卡
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921184091.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-24
授权号 :
CN210323143U
授权日 :
2020-04-14
发明人 :
张卫勇季寒飞吕晨昱钟志宏
申请人 :
苏州光和精密测试有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴中经济开发区越溪街道前珠路1号2幢六楼618
代理机构 :
上海精晟知识产权代理有限公司
代理人 :
吴冲般
优先权 :
CN201921184091.3
主分类号 :
G01R1/073
IPC分类号 :
G01R1/073  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2020-04-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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