高效率的集成电路测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种高效率的集成电路测试装置，包括：底座，底座的顶部设有测试槽，待测集成IC放置在测试槽内，且测试槽的槽底设有与待测集成IC的管脚一一对应的接触脚垫。底座上设有两支撑板，两支撑板对称设置在测试槽的两侧，两支撑板的顶部设有固定板，固定板上设有气缸。气缸设置在待测集成IC的正上方，其底部设有压紧部，压紧部将待测集成IC的管脚压紧在各自对应的接触脚垫上。本实用新型的有益效果：待测集成IC的管脚通过与测试槽内的接触脚垫连接，实现与底座内的测试板耦接，并通过压紧部将管脚与接触脚垫压紧在一起，使得测试时，待测集成IC与测试板的耦接方便且稳定，散热效果好，测试效率高。
基本信息
专利标题 ：
高效率的集成电路测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922324811.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-19
授权号 ：
CN211785933U
授权日 ：
2020-10-27
发明人 ：
沈巧琳徐春雷丁向东
申请人 ：
深圳市英赛尔电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区吉华街道吉华路393号英达丰工业园A栋401
代理机构 ：
深圳市中科创为专利代理有限公司
代理人 ：
梁炎芳
优先权 ：
CN201922324811.8
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-10-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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