一种红外锗单晶生长用直径测量装置

专利申请权、专利权的转移

摘要

本实用新型涉及一种红外锗单晶生长用直径测量装置，包括竖直台和游标卡尺组件；所述游标卡尺组件包括主尺和游标，所述游标设置于主尺上，且与主尺滑动连接；所述游标设有镜头；所述镜头的光轴与所述主尺垂直，所述镜头的镜面设有单晶边缘对准标识；所述竖直台与所述主尺固定连接，且互成90°夹角。该直径测量装置采用L型结构，且通过镜头可准确定位锗单晶的左右边缘，可在拉制过程中准确测量锗单晶的直径，以解决现有技术中测量红外锗单晶的误差问题，且具有结构简单、操作方便的优点。

基本信息

专利标题：

一种红外锗单晶生长用直径测量装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922376038.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-26

授权号：

CN211576049U

授权日：

2020-09-25

发明人：

李刚雷同光李燕

申请人：

有研光电新材料有限责任公司

申请人地址：

河北省廊坊市廊坊开发区百合道4号

代理机构：

北京辰权知识产权代理有限公司

代理人：

董李欣

优先权：

CN201922376038.X

主分类号：

G01B5/08

IPC分类号：

G01B5/08