曝光系统、光刻机及曝光方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供的曝光系统包括依次设置的灯室结构、耦合镜组、匀光单元、中继镜组和投影物镜;所述曝光系统还包括光阑和/或所述灯室结构具有快门,所述光阑设置于所述快门后方或所述中继镜组的孔径光阑位置;所述灯室结构用于提供光束,所述光束经所述耦合镜组、匀光单元、中继镜组传输至所述投影物镜,通过平滑调整所述光阑的口径或所述快门的口径以衰减所述光束,实现所述曝光系统的能量的连续衰减。进一步的,所述耦合镜组还包括变焦切换组件,通过平滑调整变焦切换组件配合平滑调整所述光阑或者所述快门的孔径,可以实现能量连续衰减的同时,保证所述曝光系统的光学性能不变。

基本信息
专利标题 :
曝光系统、光刻机及曝光方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114384764A
申请号 :
CN202011126454.5
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2020-10-20
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
侯宝路周畅
申请人 :
上海微电子装备(集团)股份有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区张东路1525号
代理机构 :
上海思捷知识产权代理有限公司
代理人 :
王宏婧
优先权 :
CN202011126454.5
主分类号 :
G03F7/20
IPC分类号 :
G03F7/20  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G03
摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F
图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F7/00
图纹面,例如,印刷表面的照相制版如光刻工艺;图纹面照相制版用的材料,如:含光致抗蚀剂的材料;图纹面照相制版的专用设备
G03F7/20
曝光及其设备
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G03F 7/20
申请日 : 20201020
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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