本发明发明公开了一种电子电路用的芯片测试仪器，包括支撑座，所述支撑座的上端固定连接有过渡板，所述支撑座内壁的右侧固定连接有气缸，所述气缸远离支撑座内壁的一侧固定连接有第一固定块，所述第一固定块的一端固定连接有滑块，所述支撑座内壁的底部固定连接有轴承，所述轴承上固定连接有连接体，所述连接体的表面从下到上依次固定连接有齿轮和第二连接块，所述连接体的两端设置有支撑块，所述支撑块的上端连接有测试本体，所述测试本体外部底部固定连接有滑动装置，所述支撑座的右侧固定连接有控制器，所述测试本体的内部下端固定设置有第一安装架,所述控制器电性连接示波器。本发明可以直观的显示电芯当前的温度，并且可以时时观测。