一种用于快速测试LED芯片抗水解性能的系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于快速测试LED芯片抗水解性能的系统，包括：温湿调节器，所述温湿调节器设有腔体；连接在腔体内壁的旋转装置，所述旋转装置可沿着腔体的内壁进行旋转；支架，所述支架为杯状结构，LED芯片安装在支架上并与支架形成导电连接；测试基板，所述支架固定在测试基板上，且所述支架与测试基板导电连接，所述测试基板连接在旋转装置上；通过旋转装置调节LED芯片的朝向，向测试基板通入逆向电压，并调节腔体内的温湿度，以对LED芯片进行冲击测试。通过旋转装置调整LED芯片的朝向，有效加快LED芯片的水解速度，从而缩短检测时间。
基本信息
专利标题 ：
一种用于快速测试LED芯片抗水解性能的系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020254717.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-04
授权号 ：
CN212159998U
授权日 ：
2020-12-15
发明人 ：
余金隆庄家铭
申请人 ：
佛山市国星半导体技术有限公司
申请人地址 ：
广东省佛山市南海区狮山镇罗村朗沙广东新光源产业基地内光明大道18号
代理机构 ：
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 ：
胡枫
优先权 ：
CN202020254717.X
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R31/26 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-12-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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