本实用新型公开了一种基于双面引脚阵列半导体芯片的测试治具，包括两个对称设置的支撑柱，两个所述支撑柱的末端均固定有垫腿，两个所述支撑柱的顶端共同固定套设有固定座，且两个所述支撑柱之间共同滑动套设有活动座，两个所述支撑柱外均套设有弹簧，两个所述支撑柱相对的一侧均设置有与活动座相匹配的推抵机构，两个所述弹簧均为强力压缩弹簧，两个所述弹簧的上端均与固定座的底部固接，两个所述弹簧的下端均与活动座的顶部固接。本实用新型中凸板上均呈阵列分布式地开设有与半导体芯片引脚相匹配的供其穿插的多个通孔，这样能在加紧半导体芯片避免其上的引脚的弯折乃至损坏，采用专做专用的方式确保后续测试流程的顺利进行。