一种半导体元件的测试夹持工装
授权
摘要

本实用新型公开了一种半导体元件的测试夹持工装,包括支撑框架,所述支撑框架的上方活动安装有两个夹持机构,两个所述夹持机构的底部均与第一丝杠螺纹连接,支撑框架的两侧均固定安装有两个滚轮,夹持机构包括移动撑板,移动撑板的上方活动安装有两个移动座,两个移动座的底部均与第二丝杠螺纹连接,移动座的上表面竖直设置有两个固定轴,固定轴上沿竖直方向套设有两个转动环,转动环的外侧套接固定有橡胶环;该测试夹持工装可以对各个移动座上的橡胶环的间距进行调节,可以对不同尺寸的半导体元件进行夹持,适应性强,该测试夹持工装便于移动,方便在各个测试工位之间转移,提高了工作效率。

基本信息
专利标题 :
一种半导体元件的测试夹持工装
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021234931.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-29
授权号 :
CN212113669U
授权日 :
2020-12-08
发明人 :
蒋振荣周海生
申请人 :
安徽富信半导体科技有限公司
申请人地址 :
安徽省马鞍山市郑蒲港新区金蒲电子信息产业园1#东侧
代理机构 :
合肥正则元起专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
韩立峰
优先权 :
CN202021234931.5
主分类号 :
H01L21/687
IPC分类号 :
H01L21/687  
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/67
专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21/683
用于支承或夹紧的
H01L21/687
使用机械装置的,例如卡盘、夹具或夹子
法律状态
2020-12-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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