一种芯片测试工装用快速换件机构
授权
摘要
本实用新型公开了一种芯片测试工装用快速换件机构，包括测试仪本体，所述测试仪本体上表面固定安装有载板底座和显示屏，所述显示屏前方固定设置有两个与显示屏电性连接的指示灯，所述载板底座上固定安装有与显示屏电性连接的测试探针，所述载板底座上固定安装有测试机构，所述测试机构包括固设于载板底座上的置物板，所述测试机构一侧活动安装有换件机构，所述换件机构包括推板、偏心轴承和连接套，所述连接套上安装有偏心轴承，所述偏心轴承上通过连接块安装有横向推板。本实用新型结构简单，既能快速换件，又能直接分类规整是否为合格产品。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片测试工装用快速换件机构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021495576.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-23
授权号 ：
CN213275844U
授权日 ：
2021-05-25
发明人 ：
刘强焦建军黄木盛彭玉成
申请人 ：
长沙高新开发区仁盈电子有限公司
申请人地址 ：
湖南省长沙市高新开发区桐梓坡西路229号麓谷国际工业园A3栋4楼
代理机构 ：
长沙中科启明知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
谭勇
优先权 ：
CN202021495576.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/02 G01R1/04 B07C5/344
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-05-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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