本实用新型公开了一种半导体生产用弹簧测试探针，包括固定套杆，所述固定套杆内部固定活动连接有活动调节杆，且活动调节杆下端固定连接有检测显示固定头，所述定位卡孔与插接槽内部相互连通，所述固定套杆内部开设有固定对接芯，且固定套杆上端可拆卸连接有探针头，所述探针头下端固定连接有插接块，且插接块内部开设有第二安装槽，所述第二安装槽内部固定连接有第二弹簧，且第二弹簧外侧固定连接有定位卡钮，所述定位卡钮与定位卡孔相互卡合，所述探针头下端内部固定连接有固定接合芯。该半导体生产用弹簧测试探针，方便整体根据实际情况更换不同规格的探针头，且增加了整体的使用寿命，且保护轴套方便进行更换，保证整体持久的保护效果。