数据纠错方法、装置、半导体元器件和可读存储介质
公开
摘要

本申请公开了一种数据纠错方法、装置、半导体元器件和可读存储介质。该方法包括:从存储器中读出数据时,每读出一页的数据,对当前页的数据进行第一次纠错,并判断第一次纠错是否成功;若第一次纠错失败,则确定当前页的低页硬判决比特信息、当前页的高页硬判决比特信息、当前页的类型和当前页的对数似然比;将低页硬判决比特信息、高页硬判决比特信息、类型和对数似然比输入至预先训练好纠正模型中,以利用纠正模型对当前页的数据进行第二次纠错,纠正模型包括多个编码器和多个解码器,每一个编码器包括一个自注意力模块,每一个解码器包括一个自注意力模块和一个交叉注意力模块。本申请可以扩展存储类半导体的纠错能力,提高数据读写效率。

基本信息
专利标题 :
数据纠错方法、装置、半导体元器件和可读存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114625559A
申请号 :
CN202111240742.8
公开(公告)日 :
2022-06-14
申请日 :
2021-10-25
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
不公告发明人
申请人 :
深圳宏芯宇电子股份有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市福田区梅林街道梅都社区中康路136号深圳新一代产业园2栋2501、2401、1501
代理机构 :
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
王新哲
优先权 :
CN202111240742.8
主分类号 :
G06F11/10
IPC分类号 :
G06F11/10  G11C29/42  G06N3/04  G06N3/08  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/07
响应错误的产生,例如,容错
G06F11/08
用数据表示中的冗余码作错误检测或校正,例如,应用校验码
G06F11/10
对编码信息添加特定的码或符号,例如,奇偶校验、除9或除11校验
法律状态
2022-06-14 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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