集成电路
公开
摘要
本发明公开一种集成电路，包括：可程序设计电路，配置为响应于第一控制信号生成第一振荡器信号和回应于第二控制信号生成第二振荡器信号；以及控制器，配置为向该可程序设计电路提供该第一控制信号和该第二控制信号、接收该第一振荡器信号和该第二振荡器信号、并使用该第一振荡器信号和该第二振荡器信号确定该可程序设计电路的传播延迟的集中趋势。本发明的上述设计可以生成足够大量的传播延迟测量值，并且考虑到各种不同类型的传播延迟的测量值，本发明的上述设计使用比以前采用的占用更少芯片上空间的可程序设计结构固定的测试结构，因此本发明的上述设计具有成本效益。
基本信息
专利标题 ：
集成电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114578218A
申请号 ：
CN202111435461.8
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2021-11-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
阿希什库马·纳亚克休·托马斯·梅尔安舒尔·瓦玛阿南德·拉贾戈帕兰
申请人 ：
联发科技(新加坡)私人有限公司
申请人地址 ：
新加坡启汇城大道一号索拉斯大厦三楼之一
代理机构 ：
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘希
优先权 ：
CN202111435461.8
主分类号 ：
G01R31/317
IPC分类号 ：
G01R31/317 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/317
••数字电路的测试
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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