一种芯片测试系统和方法
实质审查的生效
摘要

本申请提供一种芯片测试系统和方法,包括:接收转换芯片和处理器,接收转换芯片和处理器连接,接收转换芯片用于在进行待测芯片的测试时连接待测芯片,接收转换芯片包括相互连接的解析模块和校验模块,解析模块用于根据视频图像信号,解析得到视频图像数据,并提取出待测芯片的实际视频图像参数,校验模块用于根据视频图像数据计算得到待测芯片的实际循环冗余校验值,处理器用于将实际视频图像参数和实际循环冗余校验值,和,预定义视频图像参数和预定义循环冗余校验值进行比较得到测试结果。即在准确得到芯片测试结果的同时,不需要通过信号转换芯片,节约测试成本和测试时间。本申请不需要借助FPGA,减少上手时间,计算速度快,检错能力强。

基本信息
专利标题 :
一种芯片测试系统和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114325355A
申请号 :
CN202111679126.2
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
柯小青季翔宇任殿升关皓伟周大锋
申请人 :
龙迅半导体(合肥)股份有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园B3栋
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
柳虹
优先权 :
CN202111679126.2
主分类号 :
G01R31/317
IPC分类号 :
G01R31/317  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/317
••数字电路的测试
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/317
申请日 : 20211231
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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