一种芯片测试方法及系统
实质审查的生效
摘要
本申请提供一种芯片测试方法及系统，应用于高清多媒体接口HDMI芯片，HDMI芯片至少包括M个HDMI输入接口和N个HDMI输出接口，M和N中至少一个大于1，M个HDMI输入接口分别接受来自M个信号源发送的HDMI信号测试数据，N个HDMI输出接口将接收到的HDMI信号测试数据分别发送至N个接收器进行数据校验，得到校验结果，校验结果能够反映HDMI芯片的数据接收和数据发送是否正常工作，采用与HDMI芯片输入接口数量相同的信号源以及与HDMI芯片输出接口数量相同的接收器，分别对HDMI芯片的每一输入接口和每一输出接口进行测试，测试效率较高，并且成本低廉，测试难度较低，测试准确率较高。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片测试方法及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114325354A
申请号 ：
CN202111679118.8
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
薛学亮周大锋夏洪锋任殿升程子翔吕明
申请人 ：
龙迅半导体（合肥）股份有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园B3栋
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
柳虹
优先权 ：
CN202111679118.8
主分类号 ：
G01R31/317
IPC分类号 ：
G01R31/317
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/317
••数字电路的测试
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/317
申请日 : 20211231
申请日 : 20211231
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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