场发射器件结构的制造方法及场发射器件结构
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种场发射器件结构的制造方法及场发射器件结构。该方法包括:提供作为阴极材料的N型单晶硅片;在N型单晶硅片的上表面形成图案化的光刻胶层,光刻胶层包括多个彼此间隔且呈阵列排布的光刻胶遮盖单元;对光刻胶层暴露出的待刻蚀区域进行等离子体刻蚀,等离子体刻蚀的过程包括刻蚀步和保护步,刻蚀步用于通过六氟化硫对待刻蚀区域进行刻蚀,保护步用于通过氧气对刻蚀步形成的刻蚀形貌的侧壁进行保护,通过循环交替执行刻蚀步和保护步,在每个光刻胶遮盖单元下方的N型单晶硅片上形成用于发射电子的尖锥结构;去除光刻胶层,以暴露出呈阵列排布的多个尖锥结构。实现简化工艺步骤、降低制造成本。

基本信息
专利标题 :
场发射器件结构的制造方法及场发射器件结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114334582A
申请号 :
CN202111594785.6
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-23
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
林源为
申请人 :
北京北方华创微电子装备有限公司
申请人地址 :
北京市大兴区北京经济技术开发区文昌大道8号
代理机构 :
北京思创毕升专利事务所
代理人 :
孙向民
优先权 :
CN202111594785.6
主分类号 :
H01J9/00
IPC分类号 :
H01J9/00  H01J9/02  H01J31/12  H01J37/32  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J9/00
专用于制造放电管、放电灯及其部件的设备和方法;从放电管或灯回收材料
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01J 9/00
申请日 : 20211223
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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