半导体结构及其制备方法、半导体器件
实质审查的生效
摘要

本公开提供了一种半导体结构及其制备方法、半导体器件,涉及半导体芯片技术领域,旨在简化半导体结构的制作过程。半导体结构的制备方法包括:在衬底的切割道区形成第一凹槽;在衬底上形成第一叠层结构,并在第一叠层结构中形成第二凹槽和隔离凹槽;第一叠层结构包括交替堆叠的绝缘层和牺牲层,第二凹槽在衬底上的正投影与第一凹槽重叠,隔离凹槽位于衬底的芯片区;在第一叠层结构远离衬底的一侧形成第二叠层结构,第二叠层结构中经过第二凹槽的部分形成凹陷,凹陷作为第一对位标记;第二叠层结构包括交替堆叠的绝缘层和牺牲层。上述半导体结构应用于半导体器件中,以实现数据的读取和写入操作。

基本信息
专利标题 :
半导体结构及其制备方法、半导体器件
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114361169A
申请号 :
CN202111630652.X
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2021-12-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李兆松李思晢单传海鲁周阳毛晓明高晶刘静霍宗亮谢雷
申请人 :
长江存储科技有限责任公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号
代理机构 :
北京中博世达专利商标代理有限公司
代理人 :
申健
优先权 :
CN202111630652.X
主分类号 :
H01L27/11524
IPC分类号 :
H01L27/11524  H01L27/11556  H01L27/1157  H01L27/11582  H01L23/544  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27/00
由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27/02
包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27/04
其衬底为半导体的
H01L27/10
在重复结构中包括有多个独立组件的
H01L27/105
包含场效应组件的
H01L27/112
只读存储器结构的
H01L27/115
电动编程只读存储器;其多步骤制造方法
H01L27/11517
具有浮栅的
H01L27/11521
以存储器核心区为特征的
H01L27/11524
具有单元选择晶体管的,例如,NAND
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 27/11524
申请日 : 20211228
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332