可区域性控制刻蚀速率的刻蚀设备及半导体产品制造系统
授权
摘要

本实用新型提供一种可区域性控制刻蚀速率的刻蚀设备,包括刻蚀腔室,设置在刻蚀腔室内的基础刻蚀线圈,以及与基础刻蚀线圈连接的射频电源;还包括:设置在刻蚀腔室内并与射频电源连接的若干个辅助刻蚀线圈,每个辅助刻蚀线圈的尺寸小于基础刻蚀线圈;每个辅助刻蚀线圈用于使对应区域中的离子浓度发生变化,以调整对应区域下方晶圆的刻蚀速率。还提供一种半导体产品制造系统。基础刻蚀线圈和辅助刻蚀线圈叠加作用,使得对应区域中的离子浓度增大,提高下方晶圆的刻蚀速率,实现了分区域进行刻蚀速率调整的目的,避免出现刻蚀不干净或刻蚀过度的现象,也规避了因微负载效应带来的缺陷,提高了刻蚀均匀性。

基本信息
专利标题 :
可区域性控制刻蚀速率的刻蚀设备及半导体产品制造系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123012835.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-01
授权号 :
CN216413003U
授权日 :
2022-04-29
发明人 :
高前武王嘉炜
申请人 :
长电集成电路(绍兴)有限公司
申请人地址 :
浙江省绍兴市临江路500号
代理机构 :
重庆中之信知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
邓锋
优先权 :
CN202123012835.3
主分类号 :
H01J37/32
IPC分类号 :
H01J37/32  H01L21/67  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J37/00
有把物质或材料引入使受到放电作用的结构的电子管,例如为了对其检验或加工的
H01J37/32
充气放电管
法律状态
2022-04-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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