半导体产品的测试组件
授权
摘要
半导体产品的测试组件。涉及半导体测试设备技术领域，具体涉及对半导体测试片的改进。若干个所述测试组件均匀的固定在测试台的顶面，所述测试组件包括上测试片、下测试片和绝缘隔板；所述上测试片的前段为上测试段、后段为上固定段，所述上固定段固定在所述绝缘隔板的正面；所述下测试片的前段为下测试段、后段为下固定段，所述下固定段固定在所述绝缘隔板的背面；所述上测试段和所述下测试段同向。本实用新型具有测试导向、定位的作业，使半导体引脚能准确的落到测试点位，从而快速、准确的完成测试。
基本信息
专利标题 ：
半导体产品的测试组件
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123362317.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
CN216622580U
授权日 ：
2022-05-27
发明人 ：
张杰王毅
申请人 ：
扬州扬杰电子科技股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省扬州市邗江区平山堂北路江阳创业园三期
代理机构 ：
扬州市苏为知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
周全
优先权 ：
CN202123362317.4
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-05-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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