一种半导体组件测试装置
授权
摘要
本实用新型公开的属于半导体组件测试技术领域，具体为一种半导体组件测试装置，包括底座、夹持组件和检测组件，通过夹持组件包括有电动伸缩杆，电动伸缩杆输出端安装有夹持板，夹持板内侧壁上开设有夹持槽，控制按钮和光感传感器电性输入连接控制器，控制器电性输入连接电动伸缩杆，可以对检测半导体组件进行固定，防止测试过程中半导体组件发生位移，造成测试效果不佳。
基本信息
专利标题 ：
一种半导体组件测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122729701.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-09
授权号 ：
CN216646715U
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
杜浩晨
申请人 ：
陕西开尔文测控技术有限公司
申请人地址 ：
陕西省西安市高新区新型工业园发展大道26号7号楼一层
代理机构 ：
西安铭泽知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
卢会刚
优先权 ：
CN202122729701.7
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-05-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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