本发明提供了一种用于对半导体器件进行老化测试的老化板，该老化板包括安装到PCB的条形插座。该条形插座包括插座底座和插座盖，该插座底座被配置成接纳包括一系列半导体器件的器件条，该插座盖包括至少一个加热块。该插座盖能够在(a)打开位置和(b)闭合位置之间移动，该打开位置允许将该器件条安装在该插座底座上，在该闭合位置，包括该加热块的该插座盖在所安装的器件条上向下闭合。该条形插座包括导电触点，该导电触点被配置成接触该器件条上的各个半导体器件，以允许在老化测试过程期间选择性地监测各个半导体器件。该老化板也可包括加热控制电路，以在该老化测试过程期间控制该加热块。