一种新型分立器件半自动复检装置
授权
摘要

本发明公开了一种新型分立器件半自动复检装置,包括支撑箱,所述支撑箱的顶部安装有固定柱,所述固定柱的顶部安装有安装箱,所述安装箱的底壁上贯穿安装有伸缩杆,所述伸缩杆的底部安装有连接板,所述连接板的内侧贯穿安装有固定螺钉,且固定螺钉位于伸缩杆的前方和后方,所述连接板的底部通过固定螺钉安装有升降板。本发明通过安装有限位槽,由限位槽对支撑模板定位,每一个放置槽的顶部均设置有一个电控喷头,在标记时,电控喷头内部的控制阀打开然后关闭,使得涂料喷到工件上,通过涂料颜色用来标记此工件已经损坏,方便工人辨别,避免好的工件和坏的工件混乱,无法辨别。

基本信息
专利标题 :
一种新型分立器件半自动复检装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114035018A
申请号 :
CN202210015169.9
公开(公告)日 :
2022-02-11
申请日 :
2022-01-07
授权号 :
CN114035018B
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
周明
申请人 :
江苏明芯微电子股份有限公司
申请人地址 :
江苏省南通市海安市老坝港镇工业园区
代理机构 :
北京天盾知识产权代理有限公司
代理人 :
丁桂红
优先权 :
CN202210015169.9
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01R27/02  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-04-19 :
授权
2022-03-01 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20220107
2022-02-11 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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