一种微型LED芯片检测结构及其制备方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开一种微型LED芯片检测结构及其制备方法，微型LED芯片的P型氮化镓层(5)表面具有内凹形成的并深入至N型氮化镓层(2)的第一凹槽(6)和第二凹槽(7)，所述第一凹槽(6)外围为第一凸起(8)，所述第一凹槽(6)内圈为多个第二凸起(9)，多个所述第二凸起(9)通过第二凹槽(7)间隔；第一凸起(8)上的N电极层(13)是连接到一起的，且多个所述第二凸起(9)上的P电极层(14)是连接到一起的。本发明先保证LED芯片共正共负结构，在检测时只需要在LED正负电极上依据模块大小设置不同数量的检测探针，然后给LED正负极通电，以此点亮所有合格的LED芯片。检测完成后在通过刻蚀工艺将每个LED正极分开，解决了LED检测的困难。
基本信息
专利标题 ：
一种微型LED芯片检测结构及其制备方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114373843A
申请号 ：
CN202210074277.3
公开（公告）日 ：
2022-04-19
申请日 ：
2022-01-21
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
林俊荣王宏吕河江
申请人 ：
佛山市柔浩电子有限公司
申请人地址 ：
广东省佛山市南海区桂城街道深海路17号瀚天科技城A区8号楼十一楼1103-2C单元
代理机构 ：
北京市领专知识产权代理有限公司
代理人 ：
钟华
优先权 ：
CN202210074277.3
主分类号 ：
H01L33/38
IPC分类号 ：
H01L33/38 H01L33/62 H01L33/58 H01L25/16 H01L33/00 H01L23/544
法律状态
2022-05-06 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 33/38
申请日 : 20220121
申请日 : 20220121
2022-04-19 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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